X-FAB, 고속 광전자 응용을 위해 최적화된 업계 최초의 파운드리 공정 발표

2010년 1월 19일, 독일, 에르푸르트 – 아날로그/혼합 신호의 선도 업체인 X-FAB 실리콘 파운드리는 오늘 최첨단 블루레이 및 고속 광학 데이터 통신 응용을 위해 최적화된 업계최초의 파운드리 기술인 0.35 마이크로미터 공정 서비스를 시작했습니다.  XO035라 명명된 새로운 0.35 마이크로미터 공정은 X-FAB의 독점적인 블루 PIN 모듈을 포함합니다. 광범위하게 사용되는 0.35 마이크로미터 CMOS 환경에 PIN 다이오드를 통합함으로써 고성능의 광검출기 설계가 가능하며, 검출 가능한 전체 광 스펙트럼의 감도(특히 청색 파장 범위)와 속도가 X-FAB의 0.6 마이크로미터 광학 센서보다 높아 이를 사용한 차세대 제품 개발이 가능합니다. XO035는 블루레이 및 기타 광학 데이터 저장 장치용 광검출기 칩(PDIC), 광학 데이터 통신 및 하이 다이내믹 레인지(HDR) 카메라와 같이 고감도와 고대역폭이 중요한 모든 응용에 이상적입니다.

X-FAB의 CMOS / BiCMOS 개발팀을 이끌고 있는 팀장인 Konrad Bach 박사는 “”X-FAB이 추진 중인 새로운 PIN 다이오드를 사용한 광전자 공정은 업계에서 청색광의 최고 감도이자 물리적인 한계에 가까운 0.31 A/W를 제공하며. 고감도와 더불어 고대역폭, 저노이즈를 결합함으로써 블루레이 속도의 12배를 구현하는 최첨단 PDIC 설계가 가능하다”라고 말했습니다.

적색 및 IR 파장의 PIN 다이오드 감도가 0.4 A/W보다 높아 DVD와 CD에 우수한 성능을 제공하고 광학 데이터 저장 드라이브에 적합합니다. 모듈화를 통해 저노이즈 응용에 필요한 양극 트랜지스터 및 고속 PIN 다이오드 지원을 위해 필요한 빠른 MOS 트랜지스터도 제공합니다.

X-FAB은 광 윈도우 에칭 및 ARC(반사 방지막)과 함께 표준 CMOS 서비스로 통합 PIN 다이오드를 제공하는 유일한 파운드리입니다. X-FAB은 또한 일반적인 아나로그/혼합 신호 표준 서비스로 RF 액티브 및 패시브 구성요소도 제공합니다. 이러한 특성들을 통해 기존에 두 개의 칩이 필요했던 광전자 시스템을  하나의 칩에 통합 설계할 수 있는 싱글칩 솔루션을 제공하고 있습니다. 싱글칩 솔루션은 감도와 대역폭의 전체적인 성능을 향상시키고 시스템에 소요되는 총 비용또한 절감하는 효과를 고객에게 제공하게 됩니다.

가용성

XO035 공정 설계 키트(PDK)를 사용할 수 있습니다. 여러 특징 중 하나로 전용 VERILOG-A 동작 포토 다이오드 모델을 포함합니다. 설계자는 이 모델을 사용하여 광센싱 (light sensing) 의 복잡한 공정에 표준 전기 설계 플로우를 적용할 수 있습니다. XO035 PDK는 또한 범위, 속도, 저전력 및 저노이즈를 위해 최적화된 다양한 표준 셀 라이브러리 및 ESD 지원을 포함하는 I/O 라이브러리를 특징으로 합니다. PDK, 아날로그 및 디지털 라이브러리는 X-FAB의 온라인 기술 정보 센터인 X-TIC에서 액세스할 수 있습니다.