X-FAB が高速オプトエレクトロニクスアプリケーション向けに 最適化された業界初のファウンダリープロセスを発表

NEWS, Erfurt, Germany, 1月 19, 2010.

2010119日(ドイツ・エルフルト) – アナログ/ミックスドシグナルファウンダリーのトップ企業である X-FABシリコンファウンダリー社は本日、Blu-ray および高速光データ通信アプリケーション向けに最適化された業界初のファウンダリープロセスを、0.35ミクロン技術の拡張版として追加しました。XO035 と呼ばれる新しい0.35ミクロンプロセスは、X-FAB 独自のブルー PIN モジュールを搭載しています。広く使われている 0.35ミクロン CMOS 環境に、この PIN ダイオードを集積化することにより、高性能の光検出器の設計が可能になります。検出可能な光スペクトル全体に対する感度(特に青波長において)とスピードは、X-FAB 社の0.6ミクロンでの光センサーを上回り、お客様の次世代製品の開発を可能とします。XO035 は、Blu-ray やその他の光記憶装置、光データ通信やダイナミック・レンジの大きいカメラ用の光検出用 ICPDIC)など、高感度と高帯域幅が重要となる全てのアプリケーションにとって理想的です。

X-FAB 社の CMOS/BiCMOS 開発のフェロー兼マネージャである Konrad Bach 博士は、次のように述べています。「X-FAB は、新しい PIN ダイオードでオプトエレクトロニクスの限界を広げようとしています。青色波長に対して市場で最も高い感度を出しており、1ワット当たり0.31アンペアという数値は、ほぼ物理的限界です。この高い感度を、高帯域幅・低ノイズと組み合わせることにより、12倍速 Blu-ray 用のスピードを持つ最先端の PDIC の設計も可能です。」

赤および赤外領域に対する PIN ダイオードの感度は0.4 A/Wよりも高く、DVD CD に対しても高いパフォーマンスを持っており、Blu-ray/DVD/CD の複合ドライブにも適しています。モジュール化アプローチにより、低ノイズアプリケーションで必要とされるバイポーラトランジスタや、高速 PIN ダイオードに対応した信号処理を行うための高速 MOS トランジスタも提供します。

X-FAB は、光学窓のエッチングと反射防止膜(ARC)と合わせて、標準 CMOS プロセスの一部として集積化された PIN ダイオードを提供する唯一のファウンダリーです。

また X-FAB は、標準的なアナログ/ミックスドシグナルプロセスに対して、RF 用アクティブおよびパッシブ素子をセットで提供しています。これによりお客様は、従来なら2つのチップが必要だった場合でも、1つのチップ上に集積化されたオプトエレクトロニクスのシステムを設計できるようになります。シングルチップ・ソリューションを通して、感度と帯域幅の総合パフォーマンスが向上し、システムのトータルコストを削減することができます。

供給状況

XO035 プロセスデザインキット(PDK)が利用可能です。特徴として、専用の光ダイオードVERILOG-A ビヘイビアモデルが含まれます。このモデルによりデザイナーは、自分たちの標準的な電気設計フローを、光検知の複雑な物理プロセスにも適用することができるようになります。XO035 PDK にはこれ以外にも、面積・スピード・低電力・低ノイズなどに対してそれぞれ最適化された高密度の標準セルライブラリー、また、ESD もサポートした I/O ライブラリーが含まれます。PDK、アナログ及びデジタルライブラリーは、X-FAB のオンライン・テクニカルインフォメーションセンター(X-TIC)からご利用になれます。