X-FAB erweitert die Unterstützung statistischer Modellierung von Analog/Mixed-Signal-Prozessen

Erfurt, Germany, Februar 19, 2007.

X-FAB Silicon Foundries, die weltweit führende Foundrygruppe für Analog/Mixed-Signal-Halbleiteranwendungen, kündigt heute mit der Einführung von statistischen Modellen für die Monte Carlo-Simulation die Komplettierung ihres Simulations-Angebots für ihre 0.6- und 0.35-Mikrometer-Analog/Mixed-Signal-Technologieplattformen an. Damit sind Entwickler jetzt flexibler denn je, wenn es darum geht, alle Variationen bei der Entwicklung und Fertigung von Analog/Mixed-Signal-Schaltungen (ICs) zu berücksichtigen. Statistische Modelle tragen dazu bei, Designs robuster gegenüber Schwankungen bei der Temperatur, Betriebsspannung und den Prozeßparametern zu machen.


Mit der Monte Carlo-Simulation lassen sich Anpassungs- und Prozess-Veränderungen erfassen. Um Lösungen für besonders schwierige und komplexe Designprobleme zu finden, erzeugt diese Simulation entsprechend den vordefinierten Verteilungen für bestimmte Design-Parameter Zufallswerte. Simulationen, die statistische und „Worst-Case"-Szenarien einbeziehen, führen dann zu optimierten Analog/Mixed-Signal-Designs.


Mit der Kombination aus der Prüfung des optimalen Arbeitsbereiches sowie der parasitären und der statistischen Modellierung, die X-FAB erstmals bietet, sind die Entwicklerteams in der Lage, die Optimierung und die Ausrichtung von Designs einfacher durchzuführen. Diese Vorgehensweise führt zu zuverlässigen Designs mit hoher Fertigungsausbeute und beschleunigter Marktreife.

"Die Entwicklung von Analog- / Mixed-Signal-Schaltungen", sagt Thomas Ramsch, Director Design Support bei X-FAB, "ist kompliziert und erfordert sehr viel Erfahrung. Wir freuen uns, jetzt die volle Unterstützung der statistischen Modellierung anzubieten. Dadurch tragen wir dazu bei, den hohen Anforderungen der Analog- und Mixed-Signal-Simulationen gerecht zu werden und unseren Kunden auf diese Weise zu stabilen Lösungen und schnellerer Marktreife zu verhelfen."