X-FAB’s Angebot für statistische Modellierung unterstützt ab sofort MunEDA’s Software-Familie WiCkeD zur statistischen Analyse und Ausbeuteoptimierung

Erfurt, Germany, November 29, 2007.

X-FAB Silicon Foundries, die weltweit führende Foundrygruppe für Analog/Mixed-Signal-Halbleiteranwendungen, erweitert die Tool-Unterstützung für Simulation zur statistischen Modellierung einschließlich Monte Carlo-Simulation für ihre 0.6- und 0.35-Mikrometer-Analog/Mixed-Signal-Technologieplattformen um die Software-Familie WiCkeD von MunEDA. Diese Tools werden während des Schaltkreisentwurfes zur automatischen Analyse und Optimierung von Schaltungsperformance und Fertigungsausbeute eingesetzt. Sie ermöglichen, in Kombination mit X-FAB’s Monte-Carlo-Simulation, die Entwicklung robusterer Designs mit höherer Fertigungsausbeute. Der Einsatz von X-FAB Design Kits zusammen mit den MunEDA Tools verringert damit die Anzahl der notwendigen Designzyklen für Analog-/Mixed-Signal-Schaltungen und beschleunigt somit die Markteinführung für ICs in den Bereichen Kommunikation, Computer, Automotive und Consumer-Elektronik.

WiCkeD von MunEDA ist eine umfassende Familie von Softwarelösungen für die manuelle, halb- und vollautomatisierte Analyse und Optimierung der Fertigungsausbeute von analogen, mixed-signal und digitalen Schaltkreisen. Zur Erhöhung der Effizienz sind die Software-Tools für nominale Diagnose und Optimierung, sowie statistische Monte Carlo- und „Worst-Case"-Analyse neben einer graphischen Benutzeroberfläche in einem automatisierten script-basierten IP-Portierungs-Flow integriert.

„Die Entwicklung von Analog-/Mixed-Signal-Schaltungen ist aufgrund ihrer Komplexität eine große Herausforderung." sagt Thomas Ramsch, Director Design Support bei X-FAB. „Wir freuen uns, X-FAB’s Unterstützung statistischer Modellierung nun um MunEDA’s Methoden und Softwarelösungen zur Schaltungsperformance, statistischen Analyse und Optimierung der Fertigungsausbeute ergänzen zu können. Diese leistungsfähige Software hilft unseren Kunden, stabilere Analog-/Mixed-Signal-Schaltkreise schneller zur Marktreife zu führen."

„Wir freuen uns, dass X-FAB ihre Simulationsunterstützung zur statistischen Modellierung für Analog-/Mixed-Signal-Halbleiteranwendungen mit unseren Werkzeugen und Methoden zur automatisierten Analyse und Optimierung von Schaltkreisleistung und Fertigungsausbeute erweitert", fügt Dr. Michael Pronath, Vice President of Products and Solutions bei MunEDA, hinzu. „Diese Kombination – ein Ergebnis der bereits langjährigen und dauerhaften Zusammenarbeit unserer beiden Unternehmen im Bereich der Forschung – erlaubt den Entwicklern, zuverlässige Designs mit hoher Fertigungsausbeute zu erzielen."

Verfügbarkeit

X-FAB’s Simulations-Angebot zur statistischen Modellierung für die 0.6- und 0.35-Mikrometer-Analog/Mixed-Signal- Technologieplattformen ist inklusive der neuen Unterstützung der MunEDA-Lösungen sofort verfügbar.