Am Standort Dresden suchen wir ab sofort für 3-6 Monate bereichsübergreifend eine/n Studenten/in zur Bearbeitung des folgenden Themas:
Systematisierung möglicher Kratzerbilder
(verursacht durch Prozessanlagen)
Um konkurrenzfähig und effizient zu bleiben, ist es bei Fehlfunktionen von Prozessanlagen notwendig, die verursachende Maschine schnell und ohne großen Aufwand zu identifizieren. Dafür müssen mögliche Kratzersignaturen von Prozessanlagen erfasst und nutzerfreundlich dargestellt werden. Hierfür suchen wir tatkräftige Unterstützung.
Aufgaben:
- Erfassung möglicher Kratzerbilder an verschiedensten Prozessanlagen der Halbleiterfertigung
- Entwicklung einer benutzerfreundlichen Oberfläche, die den schnellen Abgleich von Wirkung und Ursache zulässt
- Bei Eignung für den Prozess: Einführung in Produktion
Profil:
- Sie sind Student/in einer technischen oder naturwissenschaftlichen Studienrichtung.
- Sie interessieren sich für die Halbleitertechnik und verfügen idealerweise bereits über Erfahrungen in diesem Bereich.
- Sie haben Interesse an Systematisierung unterschiedlichster Datenmengen.
- Sie sind kommunikativ und kontaktfreudig.
- Sie verfügen über eine selbständige und engagierte Arbeitsweise.
Bitte richten Sie Ihre Bewerbung in elektronischer Form an:
Ansprechpartnerin: Kathrin Baar, Telefon: 0351- 40756 223.
Wir freuen uns auf Ihre Bewerbung.
